Что означает ошибка пзу

Компьютер не включается.

Если после нажатия на кнопку включения компьютер не подает признаков
жизни, то одной из причин может быть неисправность самой кнопки
(хотя такое встречается очень редко). Но неплохо исключить такой
вариант сразу.

Для этого надо аккуратно замкнуть контакты (штырьки) PWD SW
непосредственно на материнской плате, предварительно отсоединив
разъем кнопки. Штырьки PWD SW расположены в группе контактов в
передней части (чаще слева) материнской платы. Нередко контакты
имеют цветовую маркировку, и в этом случае ищите зеленый (салатовый)
цвет.

Если после этого компьютер включится, то можно сделать вывод о
неисправности кнопки включения на корпусе системного блока. Если
нет, то продолжим поиски дальше.

Блок питания (БП) компьютера, это достаточно сложное электронное
устройство. В хорошем БП предусмотрена схема защиты от короткого
замыкания (КЗ).
Вполне вероятно, что один из модулей системного блока вышел из строя
и не дает «запустится» блоку питания.

Для проверки потребуется последовательно отключать все жесткие
диски, CD приводы, вытаскивать все модули расширения из материнской
платы. После каждого шага необходимо повторно пытаться включить
компьютер. Не забывайте отключать провод электропитания от
компьютера каждый раз перед извлечением модулей. Это требуется
делать еще и потому, что некоторые блоки питания при КЗ на выходе не
смогут повторно включиться, без его отключения от электрической
сети, даже после устранения источника короткого замыкания.

Если на каком-то этапе компьютер «оживет» и включится, то последний
изъятый модуль, скорее всего и является источником неисправности.

После этого можно установить (подсоединить) все, кроме неисправного
блока, на свои места, и повторно включить компьютер. Вполне
вероятно, что без неисправного модуля компьютер не сможет нормально
функционировать (в том случае, если неисправным оказалась видеокарта
или единственный модуль памяти). Тем не менее, компьютер включится,
но об отсутствующем (неисправном) устройстве сообщит BIOS
материнской платы с помощью звуковых сигналов из встроенного
динамика (PC-Speaker).

Если такая проверка не выявила причину неисправности компьютера, то
стоит проверить сам блок питания.

Идеальным вариантом для проверки блока питания, будет установка
заведомо исправного. Но если такового нет, то можно просто
подключить БП к электрической сети (соблюдая при этом все меры
предосторожности) и на основном разъеме ATX соединить контакт
зеленого провода с любым контактом черного цвета. Необходимо
отметить, что некоторые блоки питания (в основном старые) не могут
нормально работать без нагрузки. Поэтому для уверенности лучше
подключить к нему старый ненужный жесткий диск. К тому же, при такой
проверке остается небольшая вероятность того, что проверяемый
образец имеет проблемы. Со временем блоки питания (особенно дешевые)
могут не обеспечивать необходимую мощность.

Если проверка всех блоков и модулей результатов не дала, то с
большой долей вероятности можно говорить о неисправной материнской
плате. В некоторых случаях, ее возможно реанимировать.

Компьютер включается, но на экране монитора ничего нет.

Возможно, при этом из встроенного динамика раздаются звуковые
сигналы.
Любой компьютер (совместимый с IBM PC) после включения, в
обязательном порядке проходит процедуру самотестирования POST
(Power On Self Test). Для чего необходима POST?
Основной задачей данной
процедуры является проверка (тестирование) всех жизненно важных
подсистем компьютера. При прохождении теста, на каком-то этапе
возможно обнаружение неисправностей или ошибок. В некоторых случаях
информация об ошибке выводится на экран монитора и внутренний
динамик. При невозможности вывести информацию на экран монитора, мы
услышим только писк, напоминающий азбуку Морзе. Каждый вид
неисправности сопровождается своим звуковым сигналом. Рассмотрим
последовательность прохождения POST:

Диагностика процессора. Проверка контрольной суммы ROM BIOS. Проверка и инициализация контроллеров DMA, IRQ и таймера 8254. После теста таймера сообщения смогут выводиться на динамик. Проверка операций регенерации памяти. Тестирование первых 64 кбайт памяти. Загрузка векторов прерываний Тест видеоконтроллера. После успешного прохождения данного этапа, сообщения смогут выводиться на экран. Тестирование всего объема RAM. Диагностика клавиатуры. Тестирование CMOS памяти. Инициализация COM и LPT портов. Инициализация и тест контроллера FDD (флоппи дисководов). Инициализация и тест контроллера HDD (жестких дисков). Поиск дополнительных модулей ROM BIOS и их последующая инициализация. Вызов загрузчика операционной системы (INT 19h, Bootstrap), при невозможности загрузки операционной системы — попытка запуска ROM BASIC (INT 18h); при неудаче — останов системы (HALT).

Теперь рассмотрим комбинации звуковых сигналов.
В зависимости от производителя BIOS они могут отличаться. Информация о
производители, как правило, указана на самой микросхеме ПЗУ BIOS.

Таблицы звуковых сигналов

IBM BIOS

Последовательность звуковых сигналов	Описание ошибки
1 короткий	Успешный POST
1 сигнал и пустой экран	Неисправна видеосистема
2 коротких	Неисправна видеосистема (не подключен монитор)
3 длинных	Неисправна материнская плата (ошибка контроллера клавиатуры)
1 длинный, 1 короткий	Неисправна материнская плата
1 длинный, 2 коротких	Неисправна видеосистема (Mono/CGA)
1 длинный, 3 коротких	Неисправна видеосистема (EGA/VGA)
Повторяющийся короткий	Неисправности связаны с блоком питания или материнской платой
Непрерывный	Проблемы с блоком питания или материнской платой
Отсутствует	Неисправен блок питания или материнская плата

Award BIOS

Последовательность звуковых сигналов	Описание ошибки	Комментарий
1 короткий	Успешный POST	Если на экране изображения нет, то стоит проверить кабели подключения монитора. В редких случаях может быть неисправна видеокарта.
2 коротких	Обнаружены незначительные ошибки. На экране монитора появляется предложение войти в программу CMOS Setup Utility и исправить ситуацию. Проверьте надежность крепления шлейфов в разъемах жесткого диска и материнской платы.
3 длинных	Ошибка контроллера клавиатуры	Проверьте подключение кабеля клавиатуры. В редких случаях возможна неисправность материнской платы.
1 короткий, 1 длинный	Ошибка оперативной памяти (RAM)	Если установлено несколько модулей ОЗУ, то стоит проверить каждую рейку памяти отдельно. Для этого вставляем по очереди по одной рейке и пробуем включить компьютер. Причина, также, может быть в плохом контакте разъема. Стоит аккуратно протереть контакты каждого модуля спиртом и установить на место.
1 длинный, 2 коротких	Ошибка видеокарты	Попробуйте вынуть ее из слота и защелкнуть до упора обратно. Особое внимания обратите на то, чтобы контакты платы полностью вошли в разъем. Не помешает предварительно осторожно протереть все контактные дорожки видеоплаты спиртом или специальной жидкостью. Многие видеоадаптеры имеют тяжелую систему охлаждения, и со временем, могут частично выходить из разъема.
1 длинный, 3 коротких	Ошибка инициализации клавиатуры	Проверьте подключение кабеля клавиатуры.
1 длинный, 9 коротких	Ошибка при чтении из ПЗУ	Скорее всего, необходимо «перепрошить» или заменить микросхему BIOS. Если ПЗУ находится на специальной панельке, то можно попытаться аккуратно ее вытащить и вставить обратно. Такая процедура иногда помогает.
Повторяющийся короткий	Проблемы с блоком питания; Проблемы с ОЗУ
Повторяющийся длинный	Проблемы с ОЗУ	Неправильно установлены модули памяти
Повторяющаяся высокая-низкая частота	Проблемы с CPU
Непрерывный	Проблемы с блоком питания	Неисправен или неправильно подключен блок питания к материнской плате. Необходимо еще раз проверить правильность подключения. Если ошибок не найдено то, скорее всего, блок питания неисправен. Возможно, на выходе присутствуют не все напряжения. Необходимо заменить БП на исправный.

AMI BIOS

Последовательность звуковых сигналов	Описание ошибки	Комментарий
1 короткий	Ошибок не обнаружено ПК исправен	Если на экране изображения нет, то стоит проверить кабели подключения монитора. В редких случаях может быть неисправна видеокарта.
1 длинный, 1 короткий	Проблемы с блоком питания
1 длинный, 4 коротких	Отсутствие Видеокарты
2 коротких	Ошибка чётности RAM или вы забыли выключить сканер или принтер	Если установлено несколько модулей ОЗУ, то стоит проверить каждую рейку памяти отдельно. Для этого вставляем по очереди по одной рейке и пробуем включить компьютер. Причина, также, может быть в плохом контакте разъема. Стоит аккуратно протереть контакты каждого модуля спиртом и установить на место.
3 коротких	Ошибка в первых 64 КБ RAM
4 коротких	Неисправность системного таймера	Если перезагрузка компьютера не помогает, то, скорее всего, придется менять материнскую плату.
5 коротких	Проблемы с процессором	Стоит проверить процессор на другом компьютере. Если процессор исправный, то вполне вероятно, что имеются проблемы с материнской платой. с Возможно, нарушен контакт в сокете процессора.
6 коротких	Ошибка инициализации контроллера клавиатуры	Проверьте качество подключение кабеля клавиатуры.
7 коротких	Проблемы с материнской платой	Вполне вероятно, материнскую плату придется заменить.
8 коротких	Ошибка памяти видеокарты	Попробуйте вынуть ее из слота и защелкнуть до упора обратно. Особое внимания обратите на то, чтобы контакты платы полностью вошли в разъем. Не помешает предварительно осторожно протереть все контактные дорожки видеоплаты спиртом или специальной жидкостью. Многие видеоадаптеры имеют тяжелую систему охлаждения, и со временем, могут частично выходить из разъема.
9 коротких	Контрольная сумма BIOS неверна	Скорее всего, необходимо «перепрошить» или заменить микросхему BIOS. Если ПЗУ находится на специальной панельке, то можно попытаться аккуратно ее вытащить и вставить обратно. Такая процедура иногда помогает.
10 коротких	Ошибка записи в CMOS	В некоторых случаях помогает сброс параметров BIOS. Для этой цели на материнской плате предусмотрена специальная перемычка. Ее просто следует вытащить и подождать несколько минут. Если таковой нет или ее не удалось найти, то можно просто удалить батарейку из материнской платы и через 2-3 минуты установить обратно. При этом шнур питания системного блока должен быть отключен от розетки электропитания. Если компьютер запустится, то следует в BIOS выбрать параметр Load BIOS Defaults. Если ошибка будет повторяться, то микросхему BIOS следует заменить.
11 коротких	Ошибка кэша, расположенного на системной плате
1 длинный, 2 коротких	Ошибка видеокарты (Mono-CGA)	см. 8 коротких
1 длинный, 3 коротких	Ошибка видеокарты (EGA-VGA)	см. 8 коротких
1 длинный, 8 коротких	Проблемы с видеокартой или не подключён монитор
Отсутствует и пустой экран	Неисправен процессор. Возможно изогнут контакт микросхемы. Если не помогло, замените процессор.

AST BIOS

Последовательность звуковых сигналов	Описание ошибки
1 короткий	Ошибка при проверке регистров процессора. Неисправность процессора
2 коротких	Ошибка буфера клавиатурного контроллера. Неисправность клавиатурного контроллера.
3 коротких	Ошибка сброса клавиатурного контроллера. Неисправность клавиатурного контроллера или системной платы.
4 коротких	Ошибка связи с клавиатурой.
5 коротких	Ошибка клавиатурного ввода.
6 коротких	Ошибка системной платы.
9 коротких	Несовпадение контрольной суммы ПЗУ BIOS. Неисправна микросхема ПЗУ BIOS.
10 коротких	Ошибка системного таймера. Системная микросхема таймера неисправна.
11 коротких	Ошибка чипсета.
12 коротких	Ошибка регистра управления питанием в энергонезависимой памяти.
1 длинный	Ошибка контроллера DMA 0. Неисправна микросхема контроллера DMA канала 0.
1 длинный, 1 короткий	Ошибка контроллера DMA 1. Неисправна микросхема контроллера DMA канала 1.
1 длинный, 2 коротких	Ошибка гашения обратного хода кадровой развёртки. Возможно, неисправен видеоадаптер.
1 длинный, 3 коротких	Ошибка в видеопамяти. Неисправна память видеоадаптера.
1 длинный, 4 коротких	Ошибка видеоадаптера. Неисправен видеоадаптер.
1 длинный, 5 коротких	Ошибка памяти 64K.
1 длинный, 6 коротких	Не удалось загрузить векторы прерываний. BIOS не смог загрузить векторы прерываний в память
1 длинный, 7 коротких	Не удалось инициализировать видеооборудование.
1 длинный, 8 коротких	Ошибка видеопамяти.

Phoenix BIOS

Beep-коды представлены последовательностью звуковых сигналов.
Например, 1-1-2 означает 1 звуковой сигнал, пауза, 1 звуковой сигнал, пауза,
и 2 звуковых сигнала.

Последовательность звуковых сигналов	Описание ошибки	Комментарий
1-1-2
1-1-3	Ошибка записи/чтения данных в/из CMOS-памяти.	В некоторых случаях помогает сброс параметров BIOS. Для этой цели на материнской плате предусмотрена специальная перемычка. Ее просто следует вытащить и подождать несколько минут. Если таковой нет или ее не удалось найти, то можно просто удалить батарейку из материнской платы и через 2-3 минуты установить обратно. При этом шнур питания системного блока должен быть отключен от розетки электропитания. Если компьютер запустится, то следует в BIOS выбрать параметр Load BIOS Defaults. Если ошибка будет повторяться, то микросхему BIOS следует заменить.
1-1-4	Обнаружена ошибка при подсчете контрольной суммы содержимого BIOS.	Скорее всего, необходимо «перепрошить» или заменить микросхему BIOS. Если ПЗУ находится на специальной панельке, то можно попытаться аккуратно ее вытащить и вставить обратно. Такая процедура иногда помогает.
1-2-1	Ошибка инициализации материнской платы.
1-2-2	Ошибка инициализации контроллера DMA.	DMA (Direct Memory Access — контроллер прямого обращения к памяти). Если перезагрузка компьютера проблему не решает, то, скорее всего, придется заменить материнскую плату.
1-2-3	Ошибка в процессе чтения/записи в один из каналов DMA.
1-3-1	Ошибка инициализации схемы регенерации оперативной памяти.	Если установлено несколько модулей ОЗУ, то стоит проверить каждую рейку памяти отдельно. Для этого вставляем по очереди по одной рейке и пробуем включить компьютер. Причина, также, может быть в плохом контакте разъема. Стоит аккуратно протереть контакты каждого модуля спиртом и установить на место.
1-3-3 или 1-3-4	Ошибка инициализации первых 64 Кбайт оперативной памяти.
1-4-1	Ошибка инициализации материнской платы.	Вполне вероятно, материнскую плату придется заменить.
1-4-2	Ошибка инициализации оперативной памяти.	см. 1-3-3
1-4-3	Ошибка инициализации системного таймера.	Если перезагрузка компьютера не помогает, то, скорее всего, придется менять материнскую плату.
1-4-4	Ошибка записи/чтения в/из одного из портов ввода/вывода.	Проблема может быть вызвана ошибкой периферийного устройства, использующего данный порт для своей работы.
2-1-1	Обнаружена ошибка при чтении/записи 0-го бита (в шестнадцатеричном представлении) первых 64 Кбайт ОЗУ
2-1-2	Обнаружена ошибка при чтении/записи 1-го бита (в шестнадцатеричном представлении) первых 64 Кбайт ОЗУ
2-1-3	Обнаружена ошибка при чтении/записи 2-го бита (в шестнадцатеричном представлении) первых 64 Кбайт ОЗУ
2-1-4	Обнаружена ошибка при чтении/записи 3-го бита (в шестнадцатеричном представлении) первых 64 Кбайт ОЗУ
2-2-1	Обнаружена ошибка при чтении/записи 4-го бита (в шестнадцатеричном представлении) первых 64 Кбайт ОЗУ
2-2-2	Обнаружена ошибка при чтении/записи 5-го бита (в шестнадцатеричном представлении) первых 64 Кбайт ОЗУ
2-2-3	Обнаружена ошибка при чтении/записи 6-го бита (в шестнадцатеричном представлении) первых 64 Кбайт ОЗУ
2-2-4	Обнаружена ошибка при чтении/записи 7-го бита (в шестнадцатеричном представлении) первых 64 Кбайт ОЗУ
2-3-1	Обнаружена ошибка при чтении/записи 8-го бита (в шестнадцатеричном представлении) первых 64 Кбайт ОЗУ
2-3-2	Обнаружена ошибка при чтении/записи 9-го бита (в шестнадцатеричном представлении) первых 64 Кбайт ОЗУ
2-3-3	Обнаружена ошибка при чтении/записи 10-го бита (в шестнадцатеричном представлении) первых 64 Кбайт ОЗУ
2-3-4	Обнаружена ошибка при чтении/записи 11-го бита (в шестнадцатеричном представлении) первых 64 Кбайт ОЗУ
2-4-1	Обнаружена ошибка при чтении/записи 12-го бита (в шестнадцатеричном представлении) первых 64 Кбайт ОЗУ
2-4-2	Обнаружена ошибка при чтении/записи 13-го бита (в шестнадцатеричном представлении) первых 64 Кбайт ОЗУ
2-4-3	Обнаружена ошибка при чтении/записи 14-го бита (в шестнадцатеричном представлении) первых 64 Кбайт ОЗУ
2-4-4	Обнаружена ошибка при чтении/записи 15-го бита (в шестнадцатеричном представлении) первых 64 Кбайт ОЗУ
3-1-1	Ошибка инициализации второго канала DMA.
3-1-2 или 3-1-4	Ошибка инициализации первого канала DMA.
3-2-4	Ошибка инициализации контроллера клавиатуры.	Проверьте подключение кабеля клавиатуры. В редких случаях возможна неисправность материнской платы.
3-3-4	Ошибка инициализации видеопамяти.	Попробуйте вынуть ее из слота и защелкнуть до упора обратно. Особое внимания обратите на то, чтобы контакты платы полностью вошли в разъем. Не помешает предварительно осторожно протереть все контактные дорожки видеоплаты спиртом или специальной жидкостью. Многие видеоадаптеры имеют тяжелую систему охлаждения, и со временем, могут частично выходить из разъема.
3-4-1	Возникли серьёзные проблемы при попытке обращения к монитору.
3-4-2	Не удается инициализировать BIOS видеоплаты.
4-2-1	Ошибка инициализации системного таймера.	Если перезагрузка компьютера не помогает, то, скорее всего, придется менять материнскую плату.
4-2-2	Тестирование завершено.
4-2-3	Ошибка инициализации контроллера клавиатуры.	Ошибка при работе линии А20.
4-2-4	Критическая ошибка при переходе центрального процессора в защищенный режим.	Возможно, имеются проблемы с процессором. Стоит проверить процессор на другом компьютере. Если процессор исправный, то вполне вероятно, что имеются проблемы с материнской платой. с Возможно, нарушен контакт в сокете процессора.
4-3-1	Ошибка инициализации оперативной памяти.	Если установлено несколько модулей ОЗУ, то стоит проверить каждую рейку памяти отдельно. Для этого вставляем по очереди по одной рейке и пробуем включить компьютер. Причина, также, может быть в плохом контакте разъема. Стоит аккуратно протереть контакты каждого модуля спиртом и установить на место.
4-3-2	Ошибка инициализации первого таймера.
4-3-3	Ошибка инициализации второго таймера.
4-4-1	Ошибка инициализации одного из последовательных портов.
4-4-2	Ошибка инициализации параллельного порта.
4-4-3	Ошибка инициализации математического сопроцессора.
4-4-4
Длинные, непрекращающиеся сигналы	Неисправна материнская плата.
Звук сирены с высокого на низкую частоту	Неисправна видеокарта, проверить электролитические емкости, на утечку или заменить все на новые заведомо исправные.
Непрерывный сигнал	Не подключен (неисправен) кулер CPU.

Compaq BIOS

Звуки	Описание
1 короткий	Ошибок нет. Нормальная загрузка системы.
1 длинный + 1 короткий	Ошибка контрольной суммы памяти CMOS BIOS. Возможно сел аккумулятор ROM.
2 коротких	Глобальная ошибка.
1 длинный + 2 коротких	Ошибка инициализации видеокарты. Проверьте правильность установки видеокарты.
7 сигналов (1 длинный, 1 с, 1?, 1 короткий, пауза, 1 длинный, 1 короткий, 1 короткий)	Неисправность видеокарты AGP. Проверьте правильность установки.
1 длинный постоянный	Ошибка оперативной памяти, попробуйте перезагрузиться.
1 короткий + 2 длинных	Неисправность оперативной памяти. Перезагрузитесь через Reset.

DELL BIOS

Beep-коды представлены последовательностью звуковых сигналов. Например, 1-1-2 означает 1 звуковой сигнал, пауза, 1 звуковой сигнал, пауза, и 2 звуковых сигнала.

Последовательность звуковых сигналов	Описание ошибки
1-2	Не подключена видеокарта
1-2-2-3	Ошибка контрольной суммы ПЗУ BIOS
1-3-1-1	Ошибка обновления DRAM
1-3-1-3	Ошибка клавиатуры 8742
1-3-3-1	Неисправна память
1-3-4-1	Ошибка ОЗУ на линии xxx
1-3-4-3	Ошибка ОЗУ на младшем бите xxx
1-4-1-1	Ошибка ОЗУ на старшем бите xxx

Надо отметить, что многие из вышеперечисленных ошибок могут
исчезнуть после перезагрузки компьютера. Иногда может помочь
отключение компьютера от электрической сети на некоторое время
(~0,5 мин.) или очистка CMOS памяти и загрузка дефолтовых
параметров в BIOS.

Следующий вид это, так называемые плавающие неисправности.
Т.е. неисправности самопроизвольно появляющиеся и исчезающие.
Это наиболее сложный для выявления вид дефектов характерный
для любой компьютерной техники. При такой неисправности
компьютер может неожиданно зависать, выключаться, перезагружаться,
ОС может выдавать различного вида ошибки.

Причин для такого поведения компьютера может быть очень много.
Больше половины всех неожиданных зависаний и внезапных перезагрузок
можно отнести к программным проблемам. Т.е это неправильно
установленные драйвера, различные программы, наличие вируса в ОС
и т.д. Но независимо от причин неисправности, желательным будет
провести ряд профилактических действий.

В любом системном блоке компьютера имеется, как минимум два
вентилятора (в блоке питания и на процессоре), целью которых
является создание принудительной циркуляции воздуха в системном
блоке для охлаждения элементов материнской платы, процессора и блока
питания. По этой причине через некоторое время в компьютере
скапливается большое количество пыли. Если вовремя не почистить
системный блок, то вполне можно ожидать перегрева процессора или
элементов материнской платы. Перегрев процессора может вызвать
неожиданное выключение, зависание или перезагрузку компьютера. А в
худшем случае через некоторое время привести и к выходу из строя
последнего. Тоже самое можно сказать и о перегреве материнской
платы. Особенно стоит обратить внимание на модуль питания процессора
VRM (Voltage Regulation Module).

В состав модуля VRM входят мощные силовые транзисторы, которые могут
выделять достаточно большое количество тепла, и при перегреве быстро
выходят из строя. Также боятся перегрева и электролитические
конденсаторы, выполняющие функцию фильтрации выходного напряжения.
Со временем от большой температуры они начинаю <подсыхать> и их
емкость уменьшается. Этот дефект может проявляться периодическими
сбоями и зависаниями компьютера. Со временем их частота
увеличивается и в один <прекрасный> момент компьютер полностью
отказывается работать. Надо отметить, что этого недостатка лишены
многие современные материнские платы с установленными на них
долговечными конденсаторами с твёрдотельным полимерным электролитом.

При удалении загрязнений из системного блока, надо учитывать,
что все компоненты электронных плат требую к себе очень бережного
обращения. Как уже было сказано ранее, даже незначительный
статический разряд может вывести электронику из строя. Так каким же
образом лучше всего удалить пыль компьютера? Пыль лучше всего
<выдувать> из системного блока, использую для этого маломощный
компрессор, пылесос (не во всех моделях есть выходное отверстие для
крепления шланга) или баллончик со сжатым воздухом. А лучше всего,
это комбинация баллончик (компрессор) и пылесос (в режиме
всасывания) — так будет меньше грязи.

Еще одним слабым (наверное, самым слабым) местом являются различные
разъемные соединения, коих в компьютере предостаточно (все слоты
расширения PCI, PCI Express, AGP, интерфейсные соединения
и пр.). Любые контакты со временем могут окисляться, и качество
электрического соединения ухудшается. Эта неисправность, также может
проявляться периодическими сбоями, совершенно случайным образом без
какой либо закономерности. В некоторых случаях от дефекта можно
избавиться, если разъем отсоединить и подсоединить заново. Но лучше,
все-таки, проблемный разъем протереть спиртом. А для большей
уверенности, можно предварительно потереть контактные дорожки
твердой стороной ластика (этот способ хорошо помогает избавиться
даже от сильного налета окисла).

Для более точного выяснения причин нестабильной работы компьютера
существуют специальные утилиты. С их помощью можно тестировать
различные узлы компьютера в предельных режимах, что позволяет с
достаточной точностью выявить виновника зависаний, перезагрузок и
прочих сбоев.

И последнее, если вы не обладаете достаточными знаниями и
умениями необходимыми для качественного ремонта ПК, то лучше
обратитесь к специалисту компьютерной помощи,
он сделает всю работу быстро и качественно
без риска для вашего оборудования.

Привет всем! ВАЗ-2114 — 02гв, январь 5.1 — … — 61.

при разгоне начинает мигать чек авто теряет обороты вплоть до заглыхания повторно заводиш и едиш нормально уже без этого глюка. причём если остановитси и дать машине малость подостыть ,то дальнейшее движение через такой же глюк.

ошибки выходят: ошибка пзу и множественные пропуски воспламенения во всех 4-х целиндрах.

по диагнозе всё нормально.

подскажите может ли быть этот глюк из за ошибки пзу, или всётаки я что то не разглядел?

Ошибка ПЗУ (Bios)

проблема с пзу
наверное батарейка на биос села.
а пипки вот:
Таблицы звуковых сигналов
[править] Award BIOS
Последовательность звуковых сигналов Описание ошибки
1 короткий Успешный POST

2 коротких Обнаружены незначительные ошибки. На экране монитора появляется предложение войти в программу CMOS Setup Utility и исправить ситуацию. Проверьте надежность крепления шлейфов в разъемах жесткого диска и материнской платы.
3 длинных Ошибка контроллера клавиатуры

1 короткий, 1 длинный Ошибка оперативной памяти (RAM)

1 длинный, 2 коротких Ошибка видеокарты

1 длинный, 3 коротких Ошибка при инициализации клавиатуры

1 длинный, 9 коротких Ошибка при чтении из ПЗУ

Повторяющийся короткий Проблемы с блоком питания
Повторяющийся длинный Проблемы с ОЗУ

Повторяющаяся высокая-низкая частота Проблемы с CPU

Непрерывный Проблемы с блоком питания
[править] AMI BIOS
Последовательность звуковых сигналов Описание ошибки
1 короткий Ошибок не обнаружено ПК исправен

1 длинный, 1 короткий Проблемы с блоком питания

2 коротких Ошибка чётности RAM

3 коротких Ошибка в первых 64 КБ RAM

4 коротких Неисправность системного таймера

5 коротких Проблемы с процессором

6 коротких Ошибка инициализации контроллера клавиатуры

7 коротких Проблемы с материнской платой

8 коротких Ошибка памяти видеокарты

9 коротких Контрольная сумма BIOS неверна

10 коротких Ошибка записи в CMOS

11 коротких Ошибка кэша, расположенного на системной плате

1 длинный, 2 коротких Ошибка видеокарты

1 длинный, 3 коротких Ошибка видеокарты

1 длинный, 8 коротких Не подключён монитор

[править] AST BIOS
Последовательность звуковых сигналов Описание ошибки
1 короткий Ошибка при проверке регистров процессора
Неисправность процессора

2 коротких Ошибка буфера клавиатурного контроллера. Неисправность клавиатурного контроллера.
3 коротких Ошибка сброса клавиатурного контроллера. Неисправность клавиатурного контроллера или системной платы.
4 коротких Ошибка связи с клавиатурой. Если замена клавиатуры не помогает, замените микросхему клавиатурного контроллера.
5 коротких Ошибка клавиатурного ввода. Замените микросхему контроллера клавиатуры.
6 коротких Ошибка системной платы. Замените системную плату.

9 коротких Несовпадение контрольной суммы ПЗУ BIOS. Неисправна и должна быть заменена микросхема ПЗУ BIOS.
10 коротких Ошибка системного таймера. Системная микросхема таймера неисправна.
11 коротких Ошибка чипсета. Замените системную плату.

12 коротких Ошибка регистра управления питанием в энергонезависимой памяти. Замените микросхему энергонезависимой памяти или системную плату.

1 длинный Ошибка контроллера DMA 0. Неисправна микросхема контроллера DMA канала 0. Если возможно, замените её.

1 длинный, 1 короткий Ошибка контроллера DMA 1. Неисправна микросхема контроллера DMA канала 1. Если возможно, замените её.

1 длинный, 2 коротких Ошибка гашения обратного хода кадровой развёртки. Возможно, неисправен видеоадаптер. Замените его.

1 длинный, 3 коротких Ошибка в видеопамяти. Неисправна память видеоадаптера. Замените его.
1 длинный, 4 коротких Ошибка видеоадаптера. Неисправен видеоадаптер. Замените его.
1 длинный, 5 коротких Ошибка памяти 64K. Если возможно, замените микросхему базовой памяти
1 длинный, 6 коротких Не удалось загрузить векторы прерываний. BIOS не смог загрузить векторы прерываний в память
1 длинный, 7 коротких Не удалось инициализировать видеооборудование
Сначала замените видеоадаптер. Если не помогло, замените системную плату.

1 длинный, 8 коротких Ошибка видеопамяти. Сначала замените видеоадаптер. Если не помогло, замените системную плату.

Источник

Ошибка пзу что это значит

• В начало форума
• Правила форума
• Старый дизайн
• FAQ
• Поиск
• Пользователи

Вот и поговорили.

Да PSP31 это чуваг с хрюна. уши трет по хрюнски.
Хрюны как всегда. уебашут флеши,а потом валят на заводчан с ТАЗа, что они хуево паяют. и флеши хрюнские умирают мешками. 😎

Еще один блин умный хрюн нашелся.
Накосячили в прошивке с CRC. а теперь флеш у них блин умирает. 😎

Совершенно верно 😀

У меня тоже такая же ошибка вылетает, после включения зажигания через секунд 50-60 если не заводить двигатель. Машину покупал б/у, так что про прошивку не могу ничего сказать. Вроде не прошивалась. Контроллер BOSCH M1.5.4 2111-1411020-70 вроде.

контролер я 5.1.1 выдает ошибку ПЗУ (1601). Что это значит и что делать?

обновить ПО и ездить дальше

всякое бывает, и блоки умирают, и шиночип виноват

Информация по иконкам и возможностям

Вы не можете начинать темы
Вы не можете отвечать на сообщения
Вы не можете редактировать свои сообщения
Вы не можете удалять свои сообщения
Вы не можете голосовать в опросах
Вы можете вкладывать файлы
Вы можете скачивать файлы

Источник

Диагностика неисправностей встроенных ПЗУ

Введение

Исследовательский документ [13] предсказывает, что в обозримом будущем более 90% площади кремния, на которой выращиваются интегральные микросхемы, будет занимать память различных типов. Ввиду их крайне высокой степени интеграции и весьма сложной структуры, массивы памяти в гораздо большей степени уязвимы для разного рода неисправностей, чем остальные модули интегральных микросхем (ИС). Сейчас происходит интенсивное внедрение во встроенные структуры памяти новых механизмов для предупреждения снижения выхода исправных чипов в соответствии с новыми требованиями, возникающими в процессе тестирования. Дело в том, что в областях полупроводниковых устройств со сверхвысокой плотностью размещения выращиваемых структур из-за диффузии на этапах полисиликона, металлизации и прочих возникают неисправности неизвестных ранее типов. Невозможность надлежащим образом проверить все структурные характеристики встроенной памяти может привести к ухудшению качества тестирования и, в конечном счете, — к понижению процента выхода исправных чипов.

Встроенная память, несомненно, более сложна с точки зрения тестирования и диагностики, чем аналогичные ИС ЗУ. Сложность структур встроенной памяти наряду с невысокой пропускной способностью тестовых каналов обуславливает как ограниченность тестового доступа, так и ограничения в управляемости при проведении тестирования. Естественно, что структуры встроенного самотестирования памяти (ВСТП) быстро зарекомендовали себя в качестве основных методологий тестопригодного проектирования (DFT), поскольку их применение позволяет с помощью сравнительно простой логики тестирования сгенерировать, сжать и сохранить на самом чипе несложные тестовые воздействия наряду с ожидаемыми реакциями. Кроме того, каналы ввода/вывода структур памяти, как правило, вполне доступны и их достаточно для управления структурами ВСТП, включая тестирование ИС на их рабочих частотах и обнаружение неисправностей, связанных с параметрами времени.

Несмотря на то, что энергонезависимые ЗУ относятся к числу старейших программируемых устройств, они по-прежнему имеют множество областей применения. ПЗУ, ППЗУ, СППЗУ, ЭСППЗУ и флэш-память оказались весьма полезными для целого ряда разнообразных приложений. Традиционно ЗУ этого типа использовались главным образом для долговременного хранения данных, таких как просмотровые таблицы для мультимедийных процессоров, или для постоянного хранения кодов микропроцессоров. Благодаря высокой плотности размещения информации и новым субмикронным технологиям с применением многих металлизированных слоев, ПЗУ также завоевали популярность в качестве удобного средства хранения информации в схемах с низким напряжением и невысоким энергопотреблением. Более того, существует ряд методов, применяемых для уменьшения влияния на цепи отдельных запоминаемых битов и/или слов различных эффектов, обусловленных емкостными нагрузками и переключениями логических сигналов. К таким методам относятся селективная предзарядка, минимизация количества ненулевых битов, инверсия строк, кодирование знака битовых наборов (когда два набора +n и –n отличаются только одним битом, кодирующим знак) и кодирование отличий наборов (метод сжатия данных, когда каждый следующий набор данных представляется только его отличием, как правило небольшим, от предыдущего набора). Такое разнообразие технических решений и технологий привело к заметному росту использования ПЗУ при проектировании ИС. Новые виды энергонезависимой памяти, такие как сегнетоэлектрическая (ferroelectric), магниторезистивная (magnetoresistive) и ОЗУ с изменяемой фазой состояния вещества (phase change RAM), способны сохранять данные при выключенном питании и не ограничены в количестве операционных циклов [1, 12]. Благодаря своим огромным преимуществам, например пониженному энергопотреблению в режиме ожидания и повышенной плотности, такие структуры памяти вскоре могут полностью заменить другие формы энергонезависимых ЗУ.

Сейчас существует острая необходимость в эффективных средствах тестирования и диагностики неисправностей в энергонезависимой памяти, поскольку недостаточно просто указать на исправность или неисправность того или иного вида памяти [3, 23]. В процессе производства ПЗУ, при анализе их неисправностей и соответствующей корректировке процесса изготовления возможность диагностировать причины появления неисправностей приобретает первоочередное значение. В частности, новые типы неисправностей должны быть точно идентифицированы и хорошо объяснены. С этим же связана и другая насущная задача — проверка исправности микросхемы, записывающей данные в ПЗУ. Таким образом, метод обнаружения и точность диагностирования неисправностей являются решающими факторами при локализации неисправностей массивов памяти. Такая диагностика может быть выполнена или непосредственно на чипе, или же в режиме off-line после копирования из него архивированных результатов встроенного тестирования.

До сравнительно недавнего времени основная стратегия диагностирования ПЗУ состояла в том, что пользователям поставлялся файл инициализации, описывающий содержимое ПЗУ. Последовательность инициализации может при этом быть любой и зависит от условий выполнения теста. В ходе процесса тестирования с помощью ВСТП содержимое ПЗУ считывается несколько раз (при этом используются различные адресные схемы) и сворачивается в сигнатуру, которая затем копируется в самом конце алгоритма тестирования. Несмотря на то, что объем данных, передаваемых в тестируемую память, сравнительно невелик, диагностические процедуры, используемые для тестирования ПЗУ, весьма громоздки. В некоторых современных методах диагностическая сигнатура копируется в наружный тестер через определенные промежутки времени (на основе методов двоичного поиска) таким образом, что всегда можно сократить процедуру тестирования, если обнаружено повреждение многоканального сигнатурного анализатора (MISR). Другие методы предусматривают откачку (копирование) содержимого всего ПЗУ при возникновении сбоя. Подобные методы позволяют обнаружить неисправности на шинах адреса и данных, однако все они сложны, занимают много времени и зачастую чрезмерно дорого стоят для реального применения. Так, например, для копирования содержимого всего ПЗУ необходимо применять ту или иную дополнительную аппаратуру. Кроме того, после каждой операции чтения ПЗУ процесс останавливается, что также заметно увеличивает время диагностики неисправностей.

Различие в чувствительности к разнообразным видам неисправностей привело к разработке ряда новых алгоритмов диагностирования памяти. Как правило, все эти алгоритмы предназначены для диагностирования ЗУ с произвольной выборкой (ЗУПВ) путем модификации контроллера ВСТП, как это выполнено в [5, 17], для проведения дополнительных тестов, предназначенных для локализации всех неисправных ячеек. В статье [14] приведена схема сжатия совокупности симптомов, требующая знания содержимого адресуемой памяти для выполнения накопления данных. Различные методы, приведенные в [2, 7, 9], являются, в сущности, процедурами подготовки к воспроизведению побитового отображения неисправностей, выполняемого в режиме off-line. Последний из упомянутых методов [16] предлагает для достижения аналогичных целей использовать гибкую логику диагностики для записи тестовых реакций синхронно с работой системы без прерываний со стороны контроллера ВСТП.

В настоящее время существуют несколько запатентованных схем диагностики ЗУ. Методы, описанные в [6, 22], предполагают использование специальных схем, предназначенных для свертки (сжатия) диагностических данных с высокой скоростью и последующего их скачивания в тестер. Аналогичным образом в схеме, описанной в [7, 8], производится свертка тестовых реакций памяти с помощью комбинаторной логики и их сканирование за пределами чипа. В статье [24] описывается схема свертки типа «синдром неисправности» (fault syndrome), применяемая для обнаружения реакций системы указывающих на наличие неисправности системы с помощью свертки координат. Аналогичные методики приведены в [11, 25]. В работе [21] описан метод, предлагающий динамическое переключение между режимами ВСТП и ВСД (встроенная самодиагностика, Built-In Self-Diagnosis, BISD), что позволяет обнаружить неправильную реакцию на некоторые тестовые векторы и кодировать их в определенные битовые последовательности.

В предлагаемой статье описана процедура тестирования, не требующая каких-либо значительных затрат, а также диагностическая схема, с помощью которой обеспечивается непрерывный сбор откликов схемы на подаваемые тестовые воздействия с целью точного обнаружения неисправных строк, столбцов и ячеек в ПЗУ [20]. В этом методе использован принцип разделения, предложенный первоначально в [18] для диагностики неисправностей на основе цепочек сканирования в среде ВСТП и далее расширенный в [4]. Предлагаемая схема разделяет строки и столбцы заданного массива ПЗУ и записывает результирующие сигнатуры, каждый раз сужая место возможного нахождения неисправности до тех пор, пока неисправные строки и столбцы не будут найдены. Такой подход не требует взаимодействия между ВСТП и автоматизированным тестовым оборудованием и, кроме того, не предполагает прерываний тестовой последовательности.

Архитектура схемы тестирования

Организация массива памяти

На рис. 1 показаны основные архитектурные особенности ПЗУ. Каждая строка состоит из М слов, каждое из которых имеет длину B бит. Биты в одном слове могут следовать один за другим или чередоваться, образуя сегменты, как показано на рис. 1. Декодеры обеспечивают доступ к соответствующим ячейкам памяти в быстром режиме адресации строки или быстром режиме адресации столбца (то есть когда номера строк меняются быстрее, чем номера столбцов, или наоборот). В таблице 1 приведены основные параметры памяти, которые мы будем использовать в последующих разделах этой статьи. Стоит отметить, что алгоритмы, описанные в статье, не накладывают каких-либо ограничений на схему адресации. Таким образом, массив памяти можно читать либо в порядке нарастания адресов, либо в порядке их убывания.

Рис. 1. Архитектура массива памяти

Таблица 1. Параметры массива ПЗУ

R	Число строк
B	Длина слова данных (число битов)
M	Число слов в строке (коэффициент мультипликации)
C	Число столбцов (C = B×M)

Сбор диагностических данных

Здесь предполагается, что в тестируемой памяти имеются постоянные адресно-независимые неисправности. На рис. 2 представлена архитектура структуры тестирования, необходимой для сбора диагностических данных из массивов ПЗУ. Кроме собственно контроллера ВСТП, такая структура тестирования содержит два селектора (строк и столбцов) и простую вентильную схему, позволяющую наблюдать за состояниями как строк, так и столбцов. Контроллер ВСТП непрерывно сканирует адреса ПЗУ, тогда как селекторы строки и столбца распознают, какие данные, переданные из строки или столбца памяти, на самом деле содержатся в сигнатурном регистре. В зависимости от цели теста сбор реакций системы происходит в одном из следующих режимов:

• В цепи выборки строк «лог. 0», а в цепи выборки столбцов «лог. 1»: слово в строке полностью доступно для чтения. Этот режим используется для диагностики строк и отдельных ячеек памяти.
• В цепи выборки строк «лог. 1», а в цепи выборки столбцов «лог. 0»: селектор строк блокирован, а селектор столбцов активен, что обеспечивает наблюдение за состояниями разрядов выбираемых столбцов.
• В цепи выборки строк «лог. 0» и в цепи выборки столбцов «лог. 0»: разрешена выборка как строк, так и столбцов, что приводит к возможности считывания содержимого ячеек, находящихся на пересечении выбранных строк и столбцов.

Рис. 2. Структура диагностирования неисправностей ПЗУ

Процесс диагностики достаточно прост: путем последовательного считывания и анализа данных определяется сигнатура, соответствующая выбранным строке и столбцу, которая затем пересылается в автоматизированное тестовое оборудование (АТО) через дополнительный теневой регистр (shadow register). Если полученная сигнатура соответствует ожидаемому значению (исправная сигнатура), то утверждается, что выделенные строки или столбцы исправны. Время, необходимое для диагностирования, зависит от того, каким образом осуществляется выбор наблюдаемых строк и столбцов. В приведенной схеме используется расширенная версия детерминированного разделения, первоначально предложенного для диагностики с помощью сканирования [4]. Этот принцип гарантирует максимально быстрое обнаружение источников неисправности с разрешением на уровне узла массива. Подробная информация о процедуре разделения будет представлена далее.

Сигнатурный регистр

Сигнатурный регистр используется для сбора всех тестовых реакций, полученных от выбранных ячеек памяти. Регистр обнуляется в начале каждого запуска сканирования адресного пространства. Подобным же образом содержимое регистра копируется один раз в течение одного запуска. Для реализации сигнатурного регистра используется многовходовый кольцевой генератор [15] (МКГ, ring generator with multiple inputs, MIRG), вход которого соединен с выходом некоторой вентильной схемы. На рис. 3 показана так называемая «схема впрыскивания» (injector network), обрабатывающая увеличивающееся количество входных каналов. Стоит отметить, что подключение каждого входа к отдельной точке в схеме сжатия тестовых реакций позволяет обнаруживать и различать ошибки в различных входных каналах. Этот метод явно улучшает резолюцию диагностики, как это будет показано в следующих разделах статьи.

Рис. 3. Сигнатурный регистр, выполненный на основе МКГ

Детерминированное разделение

В принципе, выбор строк и столбцов, активизируемых за время одного диагностического тестового прогона, выполняется в соответствии с детерминированной схемой, набросок которой приведен в [4]. Набор строк или столбцов памяти разлагается в группу из 2n не связанных между собой разделов примерно одного размера, где n = [0,5log₂v], а v — общее число слов или столбцов тестируемой памяти. В дальнейшем различные группы разделов формируются таким образом, чтобы каждый раздел данной группы имел не более одного общего элемента с каждым из разделов остальных групп. Такая методика гарантирует наиболее эффективное время отслеживания появления неисправных строк или столбцов. В самом деле, если массив имеет x неисправных элементов, то достаточно выполнить тестирование x+1 групп для однозначного определения неисправного элемента.

Пример 1

Рассмотрим массив памяти, состоящий из 16 строк. В таблице на рис. 4б показаны четыре группы, каждая из которых состоит из четырех уникальных секций. Предположим, что в строке 7 имеется неисправность. После получения четырех сигнатур в соответствии со схемой, заданной первой группой (0), выяснилось, что сигнатуры, представляющие разделы 0, 1 и 2, не содержат ошибок. Таким образом, строки, принадлежащие этим секциям, могут быть убраны из таблицы (нижняя таблица на рис. 4а). Так как сигнатуры, полученные путем обработки данных из строк 3, 7, 11 и 15 (раздел 3), содержат ошибки, эти строки становятся теперь подозреваемыми (отмечены на рис. 4а). Подозреваемые строки принадлежат к разным секциям в последующих группах, поэтому после прогона четырех тестов для группы 1 легко можно обнаружить строку, содержащую неисправность.

Рис. 4. Группы разбиения памяти из 16 строк: a) одиночная неисправная строка; б) три неисправные строки

Пример 2

Предположим теперь, что x = 3, то есть три строки (5, 10, 11) в том же массиве памяти неисправны. Как можно видеть на рис. 4б, после чтения x+1 = 4 групп секций строки можно однозначно определить, какие строки содержат неисправность. Как и в других схемах, диагностика ПЗУ может быть выполнена в режиме без адаптации, когда выбор количества тестов происходит до начала фактической диагностики, или в адаптивном режиме, когда учитываются результаты предыдущих прогонов. В первом случае планируется обнаружить некоторое предварительно установленное число x отказавших элементов. Не требуется какого-либо взаимодействия с тестером, поскольку достаточно собрать сигнатуры для x+1 секций группы. В рамках второго подхода, если текущее проверяемое количество подозрительных строк или столбцов больше не удается сузить, предполагается, что все они содержат неисправности, и тест тем самым завершается.

Выбор строк и столбцов

Выбор строк

В этом разделе представлены аппаратные решения, реализующие селекторы строк и столбцов. Начнем с описания общей структуры селектора строки, показанного на рис. 5. По сути, он состоит из четырех регистров. Суммирующие счетчики секции и группы, каждый из которых имеет размер n = [0,5log₂R], служат для хранения индексов текущей секции и текущей группы соответственно. Можно сказать, что эти регистры расширяют регистр адреса строки, входящий в состав контроллера ВСТП (левая часть счетчика, изображенного на рис. 5). Cдвиговый регистр с линейными обратными связями (СРЛОС, Linear feedback shift register, LFSR), выполняющий функцию простого характеристического полинома, реализует так называемый дифрактор, обеспечивающий получение последовательных степеней элементов типа GF (2n), которые впоследствии используются для выборочного инвертирования данных, пересылаемых из регистра секции. Этот же регистр имеет возможность параллельной загрузки данных, если его вход не выбран. Регистр смещения представляет собой, в сущности, вычитающий счетчик, который инициируется каждый раз, когда его вход выбран.

Рис. 5. Схема селектора строк

В принципе, схема на рис. 5 реализует следующую формулу, используемую для обозначения членов r последовательных секций p в рамках данной группы g:

где S — это размер секции; p — число секций; (+) — это поразрядное сложение по модулю 2, а g ⊗ k — это состояние сдвигового регистра с линейными обратными связями (СРЛОС), доступное через k–1 шагов после его инициализации значением g. Если k = 0, то и g ⊗ k = 0. Нетрудно убедиться, что приведенное выше уравнение дает последовательные разбиения, показанные на рис. 4 для значений S = 4 и k = 0, 1, 2, 3 при условии, что последовательность состояний дифрактора следующая: 1→2→3→1. К примеру, для значений g = 2 и p = 1 получаем следующую систему уравнений:

По мере возрастания адреса строки выбор строк в секции, в группе и, наконец, во всем тесте осуществляется следующим образом. Счетчик смещения перезагружается периодически всякий раз, когда n (число младших двоичных разрядов регистра адреса строки) становится равным нулю (это обнаруживается левым логическим вентилем ИЛИ-НЕ на рис. 5). После загрузки значение счетчика уменьшается на единицу таким образом, что в итоге счетчик обнуляется после p(+)(g ⊗ k) циклов, что обнаруживается верхним логическим вентилем ИЛИ-НЕ на рис. 5.

Таким образом, показанный на рис. 5 выход схемы обеспечивает наблюдение за одной строкой в течение каждых S последовательных циклов. Как следует из уравнения (1), начальные значения счетчика (регистра) смещения получаются путем сложения фактического номера секции и значения текущего состояния дифрактора. Последний регистр инициализируется номером группы в начале прогона каждого теста, то есть когда сбрасывается адрес строки. Впоследствии дифрактор меняет свое состояние каждый раз, когда перезагружается регистр смещения. Поскольку период дифрактора, реализованного на основе СРЛОС, равен 2n–1, а регистр смещения перезагружается 2n раз, недостающее состояние «все нули» всегда генерируется в начале теста при помощи вентилей ИЛИ на выходах дифрактора.

Пример 3

В таблице 2 моделируется функция селектора строк памяти (рис. 4) для 16 строк, образующих 4 секции (n = 2). Последовательные записи в таблице 2 соответствуют содержимому регистров селектора при обработке секции № 2 из группы № 3. Выделенные жирным шрифтом цифры указывают на промежутки времени, когда дифрактор и регистр смещения подгружаются новыми значениями. Судя по таблице 2, дифрактор загружается в начале теста содержимым группы № 3 (112), а затем он изменяет свое состояние каждые 4 цикла, следуя траектории 1→2→3. В течение этих же циклов регистр смещения загружается значением, равным сумме содержимого секции № 2 (102) и предыдущего состояния дифрактора, за исключением первой загрузки, когда в регистр загружается только содержимое секции. После инициализации счетчик выполняет вычитания и достигает нуля на циклах 2, 5, 11 и 12, что приводит к сжатию содержимого строк памяти, имеющих адреса 2, 5, 11 и 12 соответственно.

Таблица 2. Моделирование селектора строк

Адрес строки	Секция	Группа	Дифрактор	Смещение	Сжатая строка
0	10	11	11	10	0
1	10	11	11	01	0
2	10	11	11	00	1
3	10	11	11	11	0
4	10	11	01	01	0
5	10	11	01	00	1
6	10	11	01	11	0
7	10	11	01	10	0
8	10	11	10	11	0
9	10	11	10	10	0
10	10	11	10	01	0
11	10	11	10	00	1
12	10	11	11	00	1
13	10	11	11	11	0
14	10	11	11	10	0
15	10	11	11	01	0

Выбор столбцов

На рис. 6 показан селектор, используемый для детерминированного выбора искомых столбцов. Его архитектура похожа на архитектуру селектора строк, так как в обеих схемах использованы одни и те же принципы отбора. Основные отличия между схемами состоят в использовании встроенного самотестирования (ВСТ) регистра адреса столбца и новой схемы стробирования дифрактора. Кроме того, счетчик смещения здесь заменен комбинаторным декодером столбца, который позволяет выбрать один из B выходов декодера столбца (рис. 2). Следует также отметить, что дифрактор увеличивает каждый раз адрес столбца на единицу. Его содержимое складывается с содержимым секции, что дает в результате следующий адрес столбца в рамках того же алгоритма, который применялся для выбора строк.

Рис. 6. Схема селектора столбцов

Если размер В слова памяти равен М (количество слов в строке), то достаточно выбрать один из В столбцов в единицу времени, чтобы обеспечить покрытие всех столбцов в массиве памяти для одной секции группы. Однако, как правило, В > М. Это обстоятельство требует выбора более одного столбца для каждого слова в единицу времени, если для каждой секции разрабатывается отдельный тест. Число одновременно сжатых столбцов (t) может быть определено путем деления максимального числа столбцов в секции, равного 2n, на число М, равное количеству слов памяти в строке:

Важно отметить, что столбцы, сжатые параллельно, не могут быть обработаны с помощью одиночного селектора «t из B», так как в этом случае некоторые столбцы будут рассматриваться всегда вместе, тем самым исключается их эффективное разбиение. В таком случае декодер выходного столбца трансформируется в t 3 +x+1. Допустим, что дифрактор инициализирован значением «1». Тогда фазовращатели ФВ1, ФВ2 и ФВ3 находятся в выходном состоянии своих траекторий, которые начинаются, соответственно, с величин 4, 6 и 5. При рассмотрении различных секций внутри групп дифрактор пересекает соответствующие части ее пространства состояний, тогда как фазовращатели вырабатывают соответствующие значения, обеспечивающие генерацию всех возможных 2n–1 комбинаций. Отсутствующие состояния «все нули» обеспечиваются логическими вентилями И. Структура фазовращателей описана в работе [19].

Рис. 8. Схема состояний трех фазовращателей

Пример 4

Предположим, строка памяти состоит из двух 8-разрядных «прослоенных» слов, как показано в верхней части рис. 9. Из уравнения (2) следует, что t = 4/2 = 2, поэтому для тестирования необходимы два «1 из 4» декодера столбца и один фазовращатель, подключенный к выборке битов декодера от b₄ до b₇. Таблица на рис. 9 показывает, каким образом столбцы выбраны для разделения на группу 1 (012) и группу 2 (102). Первые две строки этой таблицы содержат значения, сгенерированные дифрактором (он инициализирован номером группы 1) и фазовращателем для секции 0. Как можно видеть, независимо от начального значения дифрактора адрес «0» рассматривается первым на входе нулевого декодера столбца, благодаря тому, что на вентиль И поступает ноль.

Рис. 9. Разделение столбцов

Следующим номером, присвоенным декодеру столбца, является «2», что соответствует второму состоянию, которое принимает дифрактор. Эти два адреса в нулевом столбце декодера имеют такие параметры: столбец 0 из слова 0 и столбец 5, который, по сути, является столбцом 2 из слова 1. Кроме того, декодер столбца 1 получает состояния 3 и 1, вырабатываемые фазовращателем (см. соответствующие траектории дифрактора). Они облегчают выбор столбцов 14 и 11 соответственно. Что касается остальных секций группы 1, то на выходах вентилей И и фазовращателя возникают те же состояния, но в дальнейшем они меняются путем добавления номеров последовательных секций. Такой подход позволяет эффективно проводить отбор оставшихся столбцов. Выбор столбцов для следующего раздела групп осуществляется аналогичным образом, за исключением инициализации дифрактора. Траектория дифрактора и выбор столбцов для раздела группы 2 представлены на рис. 9.

Комбинированный выбор строк и столбцов

Для минимизации теста некоторые компоненты селекторов строк и столбцов можно использовать совместно. Схема, в которой осуществлен такой подход, приведена на рис. 10, где регистры секции и группы используются обоими селекторами. Поскольку приращение адреса столбца происходит раньше приращения адреса строки, массив памяти читается в режиме быстрой адресации столбца. Благодаря тому что не требуется взаимодействия между управлением сигналами, поступающими из регистров адреса столбцов и строк, схема позволяет выполнять чтение массива памяти также в режиме быстрой адресации строки, после обмена регистрами адреса строки и столбца. Кроме того, объединенный селектор строки и столбца разработан таким образом, что ни один из компонентов не требует частоты синхронизации выше, чем та, которая используется для приращения регистров адресов столбца или строки. В результате предлагаемая схема позволяет выполнять чтение памяти на ее рабочей частоте и, таким образом, обнаруживать неисправности, связанные с параметрами времени. И наконец, поскольку комбинированный селектор позволяет собирать одновременно сигнатуры строк и столбцов, такой подход позволяет сократить время диагностики на 50%. В этом режиме, однако, необходимо использовать два сигнатурных регистра.

Рис. 10. Комбинированный селектор строк и столбцов

Выбор в режиме «решетки»

Предположим, имеется (x+1) групп сигнатур. Схемы выбора, приведенные ранее, позволяют обнаружить x неисправных строк или х неисправных столбцов. Однако фактическая неисправность может включать в себя неисправности, возникшие в строках и столбцах одновременно. На рис. 11а показана неисправность, состоящая из единичной константной неисправности столбца и единичной константной неисправности строки. Черные точки обозначают неисправные ячейки памяти (здесь предполагается случайное распределение неисправностей). Обратите внимание, что некоторые ячейки в неисправных строке и столбце содержат такие же логические значения, как и неисправные ячейки. Если использовать для диагностики метод раздельного выбора строк и столбцов, такой тип неисправности повлияет на вычисление большинства сигнатур, поскольку ячейки, относящиеся к неисправному столбцу, делают почти все сигнатуры строки ошибочными, а ячейки в неисправной строке аналогичным образом сделают ошибочными почти все сигнатуры столбцов.

Рис. 11. Выбор с помощью «решетки»

Накопление сигнатур в режиме так называемой решетки (trellis) обеспечивает решение этой проблемы путем одновременного разделения строк и столбцов. Таким образом, количество рассматриваемых ячеек существенно снижается, тем самым увеличивается шанс для записи исправных сигнатур, что позволяет эффективно отсеять неисправные строки и столбцы. На рис. 11б,в приведены примеры уплотнения «решетки» в случае, когда имеется единственная неисправная строка и единственный неисправный столбец. Анализируются только ячейки, расположенные на пересечениях строк и столбцов. Таким образом, полученные сигнатуры, по-видимому, не содержат ошибок, как показано на рис. 11б. Следовательно, выбранные строки и столбцы можно объявить исправными. Когда выбранные ячейки пересекаются с неисправными строкой или столбцом, можно ожидать появления по крайней мере одной ошибки, как это показано на рис. 11в.

При выборе по схеме «решетки» существует определенная внутренняя корреляция между строками и столбцами. В частности, использование одного и того же характеристического полинома для обоих дифракторов, изображенных на рис. 10, и инициализация их одним и тем же номером группы позволяют предсказать изменения, вызванные этой зависимостью: множество пар строка-столбец обрываются (оканчиваются) всегда в одних и тех же разделах. В результате этого алгоритм диагностики не может отличить исправные строки и столбцы от дефектных, так как они постоянно объединяются в пары схемой выбора. В левой части таблицы 3 приведено возможное воздействие этого эффекта на качество диагностики. Эти результаты были получены для массива памяти, состоящего из 1024 строк и 1024 столбцов. Селекторы строк и столбцов содержат идентичные дифракторы, в которых использован простой полином x 5 +x 2 +1. Каждая запись в таблице 3 содержит число пар строка-столбец (из общего числа 1024 2 ), которые повторяются k раз в одних и тех же разделах для произвольно выбранных 3-й, 4-й, 5-й и 32-й групп раздела. Как показано в таблице 3, 1024 строки и столбца всегда попадают в один и тот же раздел независимо от количества групп разделов. Тщательный анализ этих результатов показал, что благодаря именно такому механизму выбора каждая строка постоянно связана с определенным столбцом.

Таблица 3. Корреляция в режиме «решетки»

k	Дифрактор столбца инициализирован номером группы	Дифрактор столбца инициализирован номером группы — 1
0	952 320	920 576	888 832	31 744	953 312	922 560	892 800	297 600
1	95 232	126 976	158 720	1 015 808	92 256	122 016	149 792	827 744
2	0	0	0	0	2976	2976	3968	180 544
3	1024	0	0	0	32	922	1984	31 744
4	1024	0	0	32	0	4960
5	1024	0	32	3968
8	0	992
16	0	992
32	1024	32

Представляется, однако, что простой n-битный инкрементирующий счетчик (модуль с меткой “+1” на рис. 10), размещенный между регистром группы и одним из дифракторов, изменяет эту базовую связь строка-столбец таким образом, что результирующая корреляция между строкой и столбцом существенно уменьшается. Это подтверждается экспериментальными данными, приведенными в правой части таблицы 3. Здесь мы полагаем, что дифрактор столбца, приведенный на рис. 10, инициализируется номером группы, который будет увеличиваться на 1. Как можно видеть, усовершенствованная методика выбора, очевидно, уменьшает количество пар строка-столбец, которые всегда оканчиваются в одних и тех же разделах. Интересно, что количество таких пар равно количеству разделов в группе (32). Это происходит благодаря нулевому состоянию, которое вносят логические вентили И в начале каждого из разделов.

Неисправности одиночных ячеек памяти

Методы отбора, описанные в предыдущем разделе, позволяют локализовать неисправные участки памяти с точностью до одной строки или одного столбца. Это также дает возможность на следующем этапе диагностики определить местонахождение одной неисправной ячейки внутри строки или столбца. В этом разделе кратко излагаются основные моменты такого подхода.

Поскольку уплотнитель (сигнатурный регистр) является линейной схемой, можно использовать так называемую сигнатуру ошибки E вместо реально полученной сигнатуры A, которая может быть получена путем сложения по модулю 2 так называемой эталонной сигнатуры G с сигнатурой A, то есть E = А(+)G. С точки зрения «неисправной сигнатуры» уплотнитель находится в состоянии «все нули» (рис. 12) до внесения (инжекции) некоторой неисправности, после чего уплотнитель принимает определенное состояние x, задаваемое его схемой инжекции. Далее состояние уплотнителя продвигается на d шагов вперед и достигает состояния у. Обычно d соответствует числу шагов, необходимых для выполнения прогона теста памяти. Значение d, которое определяет местонахождение неисправности, является расстоянием между состояниями x и y, записанными в компараторе.

Рис. 12. Модель диагностики неисправностей одиночных ячеек памяти

Значение d, а следовательно, местонахождение неисправности, могут быть найдены с помощью дискретного логарифмического подсчета, описанного в статьях [10, 16]. Имея сдвиговый регистр с линейными обратными связями (LFSR) и зная его конкретное состояние, инженер может на основе этого метода определить количество синхроциклов, необходимых для достижения этого состояния при условии, что уплотнитель изначально установлен в состояние 0…001. Поскольку участок внесения неисправностей (вход уплотнителя) неизвестен, величина d должна быть вычислена В раз по следующей рекуррентной формуле:

где d_y и d_x являются, соответственно, расстояниями между состоянием 0…001 и состояниями x и y. Напомним, что расстояние x зависит от того, где введена неисправность, так же как и d_x. Только значения d 09.08.2011 | JTAG тестирование
Оставить комментарий

Источник

Бренд,эта ошибка ни на какие рассчёты не влияет,алгоритмы аварийной работы не активирует,так зачем самому себе засерать мозги?К тому же на некоторых вариантах софта эта ошибка в стандарте.В своё время даже писали специальные утилиты для отключения дополнительной проверки ПЗУ.Так что парни,забейте на эту ошибку.Иначе потратите много времени и нервов,а ничего не добьётесь.Но если есть желание поизвращаться-чтож,я не против — пожалуйста….И ещё позволю себе заметить — ошибка ПЗУ как таковой неисправностью не считается…

Изменено 17 октября 2010 пользователем Greys